Металлографические

Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации.
Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Микроскоп предназначен для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов.
Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью.
Микроскоп реализует три метода контрастирования в отраженном свете: светлое поле, простая поляризация и дифференциально-интерференционный контраст.

Микроскоп предназначен для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов.
Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 30 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью.
На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуют в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля, простой поляризации и дифференциально-интерференционного контраста.

С камерой. Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов.
Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью.
На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации.
Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Микроскоп предназначается для изучения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов и других непрозрачных объектов.
Инвертированная конструкция микроскопа не ограничивает геометрию объекта исследования, а только ограничивает его массу – до 2 кг. Одна грань образца подвергается специальной обработке и образец устанавливается на столик вниз этой поверхностью.
На этом микроскопе непрозрачные объекты исследуются в отраженном свете по методу светлого поля и простой поляризации.
Два независимых канала визуализации предусматривают одновременное подключение монитора и камеры.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности.
Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов.
Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Микроскоп обеспечивает свободное размещение на предметном столике печатных плат, интегральных схем, фотошаблонов, изделий прецизионного формования и других крупных образцов для инспектирования их поверхности.
Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов.
Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии.
Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов.
Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Универсальный микроскоп не ограничивает высоту и геометрию объектов исследования, работает в условиях ограничения пространства и предполагает модернизацию штатива под конкретные требования производственной линии.
Микроскоп предназначен для наблюдения микроструктуры металлов и сплавов, полупроводниковых материалов, контроля качества лакокрасочных покрытий и исследования других непрозрачных объектов.
Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации.
Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля и простой поляризации.
Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.

Микроскоп предназначен для исследования микроструктуры металлов, сплавов, полупроводниковых материалов, лакокрасочных покрытий и других непрозрачных объектов на плоскопараллельных полированных шлифах. Осветитель отраженного света предусматривает работу по методу светлого поля, темного поля и простой поляризации.
Встроенный осветитель проходящего света служит для исследования полупрозрачных пленок и объектов на фильтрах: проб воздуха, воды, нефти и др.
Микроскоп используется на предприятиях металлургической, машиностроительной, аэрокосмической, атомной и энергетической промышленности, в научно-исследовательских лабораториях и технических вузах.